Optris PI 1M 是一款短波紅外線熱像儀，專為亮面、高溫金屬目標物的精準非接觸式溫度量測而設計。

工作波段為 0.85–1.1 µm，能更貼合金屬在短波段的較高放射率，同時降低長波紅外線容易出現的反射誤差。此熱像儀可可靠量測金屬、合金、鋼、鐵、銅、黃銅、錫、碳材，以及半導體等目標的溫度。

此外，該熱像儀的光譜位置充分利用普朗克定律（Planck’s law）。在短波段中，金屬的自發輻射量會急遽上升，因此放射率的不確定性對量測重複性的影響較小。也因此，PI 1M 金屬專用熱像儀在明亮且高溫的表面上能達到更高的準確度與穩定性，成為金屬加工製程溫控中常見的選擇。

該熱像儀具備 450 至 1800 °C 的單一連續量測範圍。另外，優異的距離對光斑比（D:S）可支援遠距離下的小目標溫度量測。PI 1M 能以 764 × 480 像素、32 Hz 錄製清晰熱影像；也可提供 382 × 288 像素、80 Hz 的高速成像模式。對於更高速的事件，亦可使用 72 × 56 像素、1 kHz 的模式。此外，764 × 8、1 kHz 的寬幅子影像模式可用於快速線掃描。USB 與可設定的類比/數位介面可協助熱像儀整合至控制系統。透過 PIX Connect，使用者可進行線掃描、影像合併、資料記錄與警報設定。

針對嚴苛環境，可選配耐 315 °C 的水冷防護外殼；另有空氣吹掃裝置，可在多粉塵環境中保持光學鏡頭清潔。安裝硬體與配線讓其更容易部署於熔爐、反應器與生產線。針對雷射應用，也可選配窄帶阻隔濾鏡。

PI 1M 為 德國設計與製造。此款金屬專用熱像儀在精確性、速度與耐用度之間取得平衡，同時具備高成本效益。憑藉短波量測技術，其在明亮、高溫材料上提供優異的準確性、重複穩定性與靈活度，適用於冶金、雷射加工與研究領域。